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ic成品測試詳細(xì)分類
發(fā)布時間：2018-12-19 18:25:11
IC測試一般分為物理性外觀測試（Visual Inspecting Test），IC功能測試（Functional Test）,化學(xué)腐蝕開蓋測試（De-Capsulation），可焊性測試（Solderbili ty Test），直流參數(shù)（電性能）測試（Electrical Test）, 不損傷內(nèi)部連線測試（X-Ray），放射線物質(zhì)環(huán)保標(biāo)準(zhǔn)測試（Rohs）以及失效分析（FA）驗(yàn)證測試。
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