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ic成品測(cè)試是確保產(chǎn)品良率和成本控制的重要環(huán)節(jié)，在IC生產(chǎn)過程中起著舉足輕重的作用
發(fā)布時(shí)間：2019-07-22 14:17:14
IC測(cè)試是集成電路生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)，測(cè)試的主要目的是保證芯片在惡劣環(huán)境下能完全實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標(biāo)，每一道測(cè)試都會(huì)產(chǎn)生一系列的測(cè)試數(shù)據(jù)，由于測(cè)試程序通常是由一系列測(cè)試項(xiàng)目組成的，從各個(gè)方面對(duì)芯片進(jìn)行充分檢測(cè)，不僅可以判斷芯片性能是否符合標(biāo)準(zhǔn)，是否可以進(jìn)入市場(chǎng)，而且能夠從測(cè)試結(jié)果的詳細(xì)數(shù)據(jù)中充分、定量地反映出每顆芯片從結(jié)構(gòu)、功能到電氣特性的各種指標(biāo)。因此，對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試可有效提高芯片的成品率以及生產(chǎn)效率。
設(shè)計(jì)驗(yàn)證和過程工藝控制測(cè)試難以獨(dú)立分工，和芯片成品測(cè)試環(huán)節(jié)是專業(yè)測(cè)試公司主要業(yè)務(wù)形態(tài)。設(shè)計(jì)驗(yàn)證部分由于涉及到信息保密以及市場(chǎng)需求不高的問題，難以外包，而過程工藝控制測(cè)試則對(duì)潔凈程度和生產(chǎn)過程中穩(wěn)定性上的高要求，因此也難以獨(dú)立分工。晶圓測(cè)試和芯片成品測(cè)試分屬中道和后道測(cè)試部分，其信息保密及生產(chǎn)環(huán)境控制要求相對(duì)均不是太高，再加上第三方測(cè)試廠商的獨(dú)立性和專業(yè)性，可保證測(cè)試結(jié)果的有效性并能及時(shí)向上游反饋，提升芯片生產(chǎn)效率，因此，目前多數(shù)設(shè)計(jì)及代工廠商將晶圓測(cè)試和芯片成品測(cè)試外包給第三方專業(yè)測(cè)試廠商。
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